Современные решения для производства электроники

Визуальный контроль

Askania GSZ 2 - стереомикроскоп с двумя объективами
Универсальный стереомикроскоп для широкого применения, имеющий большой набор опций для решения любых задач. Увеличение: 1,6х-200х.
Askania GSZ 2T - тринокулярный микроскоп для подключения фото или видеокамеры
Универсальный стереомикроскоп с возможностью подключения цифровых камер и зеркальных фотоаппаратов. Увеличение: 2х-250х.
Askania SMT 4 - универсальный стереомикроскоп
Стереомикроскоп с шаговым переключением увеличения для применения в технологических процессах и установки на производственное оборудование. Увеличение: 1х-250х
Askania SMC 4 - универсальный стереомикроскоп
Стереомикроскоп, выполненный по оптической схеме Галилея с плавной регулировкой увеличения. Увеличение: 1х-320х
Askania RMA 5 и RMA 5 POL LED - оптические микроскопы для работы в отраженном свете
Малогабаритный микроскоп с высококачественной оптикой и отличными эксплуатационными качествами для металлургических исследований (структурных), контроля поверхностей и для исследования любых других объектов. Увеличение: 25х - 1000х
Askania MZM 1 - микроскоп с одним оптическим каналом
Микроскоп обеспечивает широкое поле зрения и имеет компактную конструкцию, поэтому он применим на всех этапах технического производства, особенно для высокоточного контроля качества.
Mantis - безокулярные стереоувеличители
Mantis это серия уникальных запатентованных безокулярных стереоувеличителей для реализации сложных задач, требующих идеального качества изображения при непрерывной работе.
Lynx - безокулярные стереомикроскопы
Стереоскопическая безокулярная система визуального контроля LYNX позволяет оператору производить контроль намного эффективнее, чем с традиционными окулярными системами за счёт значительного снижения утомляемости зрения, а также повышения свободы движения оператора. Оператор имеет возможность работать в очках или контактных линзах.
IR-2200 - инфракрасный микроскоп
Микроскоп предназначен для инспекции поверхности кремниевых и поликоровых пластин, для подповерхностного исследования микрообъектов, включая структуры MЭMC устройств, 3D сборки, фотоэлектрические устройства, компоненты CSP
WIS1100 - установка оптической инспекции
Установка предназначена для оптической инспекции, составления карты полупроводниковых пластин и классификации дефектов
DIS8000 - установка оптической инспекции
Установка предназначена для оптической инспекции после дисковой резки полупроводниковых пластин