PSM-1000 - контрольно-измерительные микроскопы

Контрольно-измерительные микроскопы PSM-1000 оборудованы тринокулярной головной частью с регулируемым револьверным устройством на 4 объектива (1 ИК-объектив, 1 УФ-объектив, 2 объектива для работы в видимом диапазоне длин волн). Микроскопы имеют плавный привод фокусировки, что обеспечивает точную фокусировку даже при больших увеличениях, могут оснащаться наклонной рабочей головой для работы с полупроводниковыми подложками диаметром до 300 мм. Микроскопы серии PSM-1000 широко применяются для контроля и тестирования электронных изделий, а также в материаловедении.

Технические характеристики