Современные решения для производства электроники

IR-2200 - инфракрасный микроскоп

Инфракрасный микроскоп предназначен для инспекции поверхности кремниевых и поликоровых пластин, для подповерхностного исследования микрообъектов, включая структуры MЭMC устройств, 3D сборки, фотоэлектрические устройства, компоненты CSP. Инфракрасный микроскоп более гибкий, чем традиционные микроскопы, позволяет анализировать образцы малых размеров.

Система IR-2200 состоит из инфракрасного настольного микроскопа и программного обеспечения, позволяет проводить высокоточные измерения, фотографировать микрообъекты, проводить инспекцию материалов, прозрачных в диапазоне ближнего ИК излучения/коротких длин волн ИК диапазона.

 

Технические характеристики модели

Диапазон спектральной чувствительности

400 нм – 2000 нм

Освещение

По Келлеру

Штатив

Фокусировка по оси Z

Рабочий столик

Ручная регулировка по осям X, Y

Объективы 400 – 1100 нм

Увеличение: 2,5Х; 5Х; 10Х; 20Х

Рабочее расстояние: 32,0; 35,1; 36,9; 22,0 мм

Фокусное расстояние: 80,0; 40; 20; 10 мм

Разрешение: 4,6; 1,7; 1,2; 0,8 мкм

Глубина фокусировки: 76,4; 10,7; 4,4; 2,2 мкм

Объективы до 1600 нм

Увеличение: 1,0Х; 2,5Х; 10Х; 20Х; 50Х; 100Х

Рабочее расстояние: 12; 28,0; 30,7; 12; 10; 10 мм

Фокусное расстояние: 200; 80; 20; 10; 4; 2 мм

Разрешение: 22,4; 6,7; 1,3; 1,3; 1,1; 0,9 мкм

Глубина фокусировки: 611; 55; 2,2; 2,2; 1,5; 0,9 мкм

Объективы 1000 – 2000 нм

Увеличение: 20Х; 50Х

Рабочее расстояние: 10; 10мм

Фокусное расстояние: 10; 4 мм

Разрешение: 1,5; 1,2 мкм

Глубина фокусировки: 2,15; 1,58 мкм

Подключаемые камеры

ABS InGaAS

Высокочувствительная ИК камера IK1523 (ближний ИК свет), интервал чувствительности: 900 – 1700 нм.

CMOS NIR

Камера со спектральной чувствительностью 380 – 1000 нм; 750 – 950 нм; 400 – 1200 нм

 

Цифровые, инфракрасные микроскопы, стереомикроскопы, объективы и линзы

все продукты

Дополнительные материалы
keyboard_arrow_leftВсе продукты раздела Визуальный контроль