Современные решения для производства электроники

Тестовое оборудование

WaveLink WL-210 RF - ручная зондовая станция для СВЧ измерений
Станция предназначена для зондовых измерений в диапазоне СВЧ и миллиметровых волн, когда эффекты резонансных воздействий становятся критичными. Это ручная станция, имеющая ряд опций для зондирования одиночных кристаллов и кристаллов на пластинах для точного измерения S-параметров, фликерного шума 1/f, коэффициента шума, параметров Load-Pull, как в открытой, так и в защищенной среде.
WaveLink WL-1160 RF - бюджетная станция для СВЧ зондирования
Модель имеет отдельный калибровочный держатель для исключения вносимых ошибок при замене калибровочной подложки на измеряемую пластину. Комплектуется держателем пластин размером 150 мм или 200 мм. Предназначена для зондовых измерений на образцах в диапазоне СВЧ и имеет бюджетную стоимость. Рекомендуется для использования в целях разработки, исследований прототипов, научно-исследовательских лабораториях.
WaveLink WL-250 - полуавтоматическая зондовая станция для СВЧ измерений
Передовое решение в линейке Signatone для СВЧ измерений с наличием программного управления позиционированием зондируемой области. Функционал позволяет выполнять измерения в диапазоне частот до 110 ГГц при температурных режимах от -65°C до 300 °C.
CheckMate CM-460 - универсальная полуавтоматическая станция
Полуавтоматическая станция для зондовых измерений с наличием программного управления позиционированием зондируемой области. Функционал позволяет проводить измерения вольт-амперных и вольт-фарадных характеристик в широком диапазоне температур с возможностью отбраковки изделий в полуавтоматическом режиме.
CheckMate - серия многоцелевых зондовых станций
Зондовые станции серии ChekMate предназначены для проведения DC измерений с возможностью определения необходимого уровня автоматизации управления рабочими узлами. Все установки отличаются высокой надежностью и качеством, имеют держатели пластин размером 200 или 300 мм, а также узел для грубого и точного перемещения измеряемого образца с субмикронным разрешением.
Semishare - ручные зондовые станции
Компактные зондовые станции для лабораторных и научно-исследовательских работ
Semishare SC - ручные зондовые станции для низко- и высокотемпературных измерений
Зондовые станции для проведения низко- и высокотемпературных измерений на полупроводниковых пластинах диаметром до 300 мм. Разработаны для применения в лабораториях и научно-исследовательских институтах
PTR-1102 - тестер механических соединений
Установка позволяет тестировать: соединения и компоненты на растяжение, на растяжение под наклоном, на разрыв/толкание, тестирование на отслаивание или отрыв, на изгиб, тестирование на сдвиг шариков и кристаллов, сварных или паяных соединений, тестирование на сдвиг под наклоном, на отрыв BGA, ит.д.
Серия APT - Серия автоматических тестеров механических соединений (проводник-контакт) на усилие отрыва
Установки серии APT представляют простое, надежное и точное решение контроля качества соединений на разрыв.
CSR5000 Micro Scratch Tester - тестер адгезии тонких пленок
Установка предназначена для тестирования адгезии тонких слоев толщиной до 10 нМ по методике MicroScratch Method (метод микро "царапания"), позволяет измерять как горизонтальные, так и вертикальные вибрации зонда на поверхности слоя.
TAC1000 - тестер адгезии
Тестер построен на базе проверенной временем платформы PTR - тестера механических соединений и позволяет контролировать качество адгезии как паяльных паст, так и других чувствительных к давлению адгезивных материалов.
CAM-2 - Настольная система измерения угла смачивания поверхности
CAM-2 -настольная система измерения угла смачивания поверхности, предназначенная для проведения лабораторных исследований и тестовых измерений, с целью определения адгезионных свойств. Типовым применением является определение технологического режима при плазменной обработки.
5200TN - многофункциональный тестер паяемости.
Установка представляет собой тестер для проведения испытаний паяемости (смачиваемости) как обычных свинцовых, так и безсвинцовых припоев и флюсов.
5200ZC - тестер экспресс оценки паяемости
Автономная установка, предназначенная для быстрого тестирования паямости в заводских условиях.
5200Advanced - тестер высокого разрешения и быстродействия
Высокоскоростной и высокочувствительный тестер паяемости малогабаритных компонентов.
Askania GSZ 2 - стереомикроскоп с двумя объективами
Универсальный стереомикроскоп для широкого применения, имеющий большой набор опций для решения любых задач. Увеличение: 1,6х-200х.
Askania GSZ 2T - тринокулярный микроскоп для подключения фото или видеокамеры
Универсальный стереомикроскоп с возможностью подключения цифровых камер и зеркальных фотоаппаратов. Увеличение: 2х-250х.
Askania SMT 4 - универсальный стереомикроскоп
Стереомикроскоп с шаговым переключением увеличения для применения в технологических процессах и установки на производственное оборудование. Увеличение: 1х-250х
Askania SMC 4 - универсальный стереомикроскоп
Стереомикроскоп, выполненный по оптической схеме Галилея с плавной регулировкой увеличения. Увеличение: 1х-320х
Askania RMA 5 и RMA 5 POL LED - оптические микроскопы для работы в отраженном свете
Малогабаритный микроскоп с высококачественной оптикой и отличными эксплуатационными качествами для металлургических исследований (структурных), контроля поверхностей и для исследования любых других объектов. Увеличение: 25х - 1000х
Askania MZM 1 - микроскоп с одним оптическим каналом
Микроскоп обеспечивает широкое поле зрения и имеет компактную конструкцию, поэтому он применим на всех этапах технического производства, особенно для высокоточного контроля качества.
Mantis - безокулярные стереоувеличители
Mantis это серия уникальных запатентованных безокулярных стереоувеличителей для реализации сложных задач, требующих идеального качества изображения при непрерывной работе.
Lynx - безокулярные стереомикроскопы
Стереоскопическая безокулярная система визуального контроля LYNX позволяет оператору производить контроль намного эффективнее, чем с традиционными окулярными системами за счёт значительного снижения утомляемости зрения, а также повышения свободы движения оператора. Оператор имеет возможность работать в очках или контактных линзах.
IR-2200 - инфракрасный микроскоп
Микроскоп предназначен для инспекции поверхности кремниевых и поликоровых пластин, для подповерхностного исследования микрообъектов, включая структуры MЭMC устройств, 3D сборки, фотоэлектрические устройства, компоненты CSP
WIS1100 - установка оптической инспекции
Установка предназначена для оптической инспекции, составления карты полупроводниковых пластин и классификации дефектов
DIS8000 - установка оптической инспекции
Установка предназначена для оптической инспекции после дисковой резки полупроводниковых пластин
GLTS - камера для испытаний термоударом
Камера для испытаний термоударом (термошоком, термоциклированием) методом двух ванн со специальной жидкостью
GTH-2P - комбинированная камера температуры и влажности
Камера предназначена для климатических испытаний высокой, низкой температурой и влажностью при постоянной и переменной температуре и влажности, также может использования для термообработки.
GHT - климатические испытательные камеры
Климатические камеры серии GHT предназначены для испытания материалов при различных температурах и влажности.
GATC - Климатические испытательные камеры
Климатические испытательные камеры серии GATC предназначены для высотного испытания материалов при различных температурах и влажности.
Камеры GWS cерий PH и PV - высокотемпературные камеры для термической обработки и температурных испытаний
Серия высокотемпературных камер для термической обработки и температурных испытаний. Все камеры обладают высокой температурной стабильностью и низкими температурными флуктуациями и отклонениями. Есть возможность подключения устройств контроля и управления по интерфейсам Ethernet и USB.
Камеры GWS серии MC - климатические камеры для испытаний при высокой и низкой температуре
Предназначены для имитации климатических условий окружающей среды в широком диапазоне температур.
nanoMETRONOM AFM
Атомно-силовой сканирующий микроскоп предназначен для визуализации свойств материалов, инспектирования и поверхностного анализа, профилометрических измерений и измерения параметров микро- и наноструктур.