Современные решения для производства электроники

05 декабря 2016

Группа разработчиков Phiplastic Team сообщила о выходе новой версии программы Phiplastic 7.1.

Группа разработчиков Phiplastic Team сообщила о выходе новой версии программы Phiplastic 7.1.

Группа разработчиков Phiplastic Team сообщила о выходе новой версии программы Phiplastic 7.1. Ниже перечислены основные доработки программы.

Модуль Phiplastic Inspection теперь распознает новый тип дефекта — сдвиг контура. Это повышает надежность контроля контактных площадок, в том числе любых искажений их формы. Также это дает возможность жестко контролировать общую геометрию платы. Ранее незначительный сдвиг элементов списывался на неточность совмещения, теперь это определяется допусками.

Улучшено распознавание разрывов проводников. Раньше разрывы иногда распознавались как дефекты топологии.

Уменьшено количество ложных тревог на прямоугольных площадках со скругленными углами и нестандартных элементах топологии.

Обнаружение дефектов в Phiplastic Inspection ускорено на 20%. Общий прирост скорости с учетом затрат на новый тип дефектов составил 15%.

В модуль импорта Gerber файлов добавлена поддержка дугообразных полигонов. Ускорена обработка больших Gerber файлов. Ослаблены ограничения на размер эталона, который может быть импортирован.

Улучшен контроль по цветному эталону. Маска чипов повышает точность обнаружения дефектов маркировки и ошибочной ориентации компонентов. Дополнительная стадия устранения шума делает результаты контроля более стабильными.

Добавлена поддержка графического формата PNG.

При интеграции Phiplastic с аппаратурой сторонних производителей появилась возможность автоматического позиционирования камеры на обнаруженные дефекты.

keyboard_arrow_leftВернуться к списку
Новости
26 сентября 2016
Компания Евроинтех анонсировала осенний цикл семинаров 2016, посвященный предлагаемому технологическому оборудованию и программному обеспечению.